产品特点：

§ 模块化设计，为扩展多种功能提供了测试平台。

§ 丰富的测试信号源及Reed Relay Switching Board,大大的保证了稳定性和测试覆盖率。

§ 测试程序全部自动生成并ATPD（Auto Test Program Debug）。

§ Board View功能可即时显示不良脚位，针点位置，方便检修。

§ 完整丰富的测试统计资料及报表，且自动储存，不因断电而遗失数据。

§ 系统具自我诊断功能及远端监控和遥控功能。

§ 支持GPIB外围设备扩展功能。

测试项目：

封装与晶圆锡球接点的开短路测试。

IC内部的开短路测试。

IC内的保护二极体测试。

Pin to Pin 、Pin to GND 、Pin to VCC阻抗比对测试。

Pin to Pin 、pin to GND 、Pin to VCC电容比对测试。

IC载板上元器件值的测试。

对IC上电，测试关键点的电压，来检测内部功能。

通用GPIB扩展来量测IC关键点波形，频率等参数。

应用领域：

一，IC品质不高的来料检查，查出率在99.5%以上，且速度快。

二，大批量返修IC的检测。

三，不良IC的故障原因的查找及统计，以便改进设计。

产品型号：

PTI-818 BGA测试仪